簡(jiǎn)要描述:薄膜表面檢測儀主要用于檢測薄膜在生產(chǎn)過(guò)程中表面出現的黑點(diǎn)、晶點(diǎn)、劃傷、破洞、線(xiàn)條、褶皺、蚊蟲(chóng)等缺陷,借助于由工業(yè)CCD相機、高亮LED線(xiàn)性聚光光源組成的薄膜表面缺陷檢測的成像系統,及時(shí)準確的反應缺陷的的圖片、形狀、尺寸以及位置等具體信息,在為質(zhì)量控制、產(chǎn)品評級提供真是準確數據的同時(shí),有效的節約了生產(chǎn)成本、提高了產(chǎn)品質(zhì)量。
項目背景
薄膜作為包裝材料的主要形式,已經(jīng)成為工業(yè)產(chǎn)品*的原材料。在薄膜的生產(chǎn)過(guò)程中,由于生產(chǎn)工藝及現場(chǎng)環(huán)境等影響,容易造成薄膜表面出現黑點(diǎn)、晶點(diǎn)、劃傷、破洞、線(xiàn)條、褶皺、蚊蟲(chóng)等缺陷。這些缺陷不僅影響薄膜產(chǎn)品的外觀(guān),更重要的是降低了薄膜的使用性能。如何在生產(chǎn)過(guò)程中及時(shí)檢出薄膜表面的瑕疵缺陷,消除生產(chǎn)的根源,實(shí)現控制和提高薄膜的表面質(zhì)量,一直是薄膜企業(yè)追求的目標。
現代工業(yè)生產(chǎn)對薄膜表面的質(zhì)量提出越來(lái)越高的要求,傳統的檢測方法如人工目視抽檢已經(jīng)遠遠不能滿(mǎn)足現在工業(yè)生產(chǎn)中高速、高分辨率和無(wú)損只能檢測的要求,基于CCD的薄膜表面瑕疵檢測系統與傳統的人工肉眼檢測相比,具有快速、可靠。準確的優(yōu)點(diǎn),目前已被許多薄膜企業(yè)所應用。
工作原理
生產(chǎn)線(xiàn)正常生產(chǎn)時(shí),高亮的LED線(xiàn)性聚光冷光源采用透射的原理照射在生產(chǎn)線(xiàn)表面(對于不透明的薄膜產(chǎn)品采用反射的檢測原理),架設在生產(chǎn)線(xiàn)上的線(xiàn)陣相機進(jìn)行實(shí)時(shí)同步掃描,同時(shí)系統將相機采集到的薄膜圖像通過(guò)SIMV圖像處理單元進(jìn)行瑕疵分割處理。
由于瑕疵圖像的灰階與正常產(chǎn)品的灰階存在明顯差異,從而使系統能夠發(fā)現瑕疵,同時(shí)對瑕疵進(jìn)行有效的判定、分類(lèi)。
技術(shù)介紹
【薄膜表面檢測系統】主要用于檢測薄膜在生產(chǎn)過(guò)程中表面出現的黑點(diǎn)、晶點(diǎn)、劃傷、破洞、線(xiàn)條、褶皺、蚊蟲(chóng)等缺陷,借助于由工業(yè)CCD相機、高亮LED線(xiàn)性聚光光源組成的薄膜表面缺陷檢測的成像系統,及時(shí)準確的反應缺陷的的圖片、形狀、尺寸以及位置等具體信息,在為質(zhì)量控制、產(chǎn)品評級提供真是準確數據的同時(shí),有效的節約了生產(chǎn)成本、提高了產(chǎn)品質(zhì)量。
檢測對象 | 保護膜、涂布膜、光學(xué)膜、鋰電隔膜、食品包裝膜 |
檢測幅寬 | 任意幅寬(根據生產(chǎn)線(xiàn)寬度進(jìn)行定制) |
檢測速度 | MAX:600m/min |
檢測精度 | 0.1mm*0.1mm |
缺陷類(lèi)型 | 晶點(diǎn)、線(xiàn)條、黑點(diǎn)、蚊蟲(chóng)、孔洞、劃傷等常見(jiàn)缺陷 |
測寬精度 | 產(chǎn)線(xiàn)無(wú)縱向偏移時(shí)誤差≤3mm |
缺陷標識 | 自動(dòng)聲光報警,同時(shí)在系統界面顯示當前缺陷的具體圖像及信息 |
歷史記錄 | 記錄每一卷薄膜缺陷的總數,分布的位置、大小、面積等信息 |
常見(jiàn)瑕疵圖片
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